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Nordic Test Forum: In-Circuit-Test vs. Funktionstest

In diesem Jahr spricht Hans Baka, Geschäftsführer von Digitaltest, auf dem traditionellen Nordic Test Forum (NTF) in Finnland. Am 28. und 29. November 2017 bieten internationale Experten spannende Beiträge rund um das Thema Produktionsprüfung in der Elektronikindustrie. Bereits seit den achtziger Jahren treffen sich auf dem NTF Anwender und Anbieter von Lösungen für Test, Inspektion und Produktion von Elektronik, um sich auszutauschen.

Hans Baka beleuchtet hier das Für und Wider verschiedener Testmethoden in seinem Beitrag „In-Circuit-Test versus Funktionstest“. Hierbei erläutert er verschiedene Teststrategien, deren Vorteile und gibt Denkanstöße, wie die optimale Testmethode gefunden werden kann: Um welches Fehlerspektrum handelt es sich bei dem Produkt? Sollen Bauteil-, Prozess- Funktions- oder Designfehler aufgedeckt werden? Wie werden Testtiefen und Fehlerabdeckung ermittelt? Wann ist es sinnvoll Testmethoden zu kombinieren?
Die Vorträge und Diskussionen im Forum finden auf Englisch statt. Im Rahmen des Nordic Test Forums gibt es eine Ausstellung, auf der Digitaltest-Partner ETRONIX AB vertreten ist. Daneben stellen weitere Hersteller ihre Produkte und Methoden rund um Produktionstests vor.

Weitere Informationen (Englisch) finden Sie hier:
Nordic Test Forum 2017 Invitation

Pressemeldung:
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