Sigma MTS 300

In-Circuit Testsystem

be multifunctional

Vacuum Interface Tester

Der Sigma ist multifunktional: Er bietet viel Raum für Module und Funktionen, bei geringem Platzbedarf.

  • Bis zu 3.456 Pins
  • Kleine Stellfläche (< 1m²)
  • Vakuumschnittstelle und Kabelschnittstelle verfügbar
  • Kurze Messwege
  • Echter Parallel Test mit Lambda Edition

Unser Sigma MTS 300 ist für eine hohe Durchlaufleistung konstruiert worden und mit bis zu 1.000 Messungen pro Sekunde einer der schnellsten In-Circuit-Testern auf dem Markt. Das Testsystem kann Ihre Leiterplatten mit bis zu 3.456 analogen, 1.664 hybriden oder ein Mix aus beiden Testpunkten prüfen. Der Sigma stellt Flexibilität, eine hohe Fehlerabdeckung und einfache Programmierung in den Vordergrund.

So können Sie das modulare Testsystem für analogen und digitalen In-Circuit-Test, vektorloses Testen, Funktionstest, Boundary Scan und Memory-Programmierung einsetzen. Dank der nicht gemultiplexten Pinarchitektur es zudem möglich, vorhandene Adapter und Prüfprogramme von anderen Testsystemen zu übernehmen.

Merkmale

Maximale Anzahl Netze 3.456
Maximale Boardgröße (BxHxT in mm) unbegrenzt
Schnittstelle Vakuum oder Kabel
Systemgröße (BxHxT in mm) 930 x 830 x 900
Besonderheiten Vakuum-Schnittstelle, kurze Messwege
Mögliche Ausführungen analog, hybrid & Lambda Edition
Maximale Adapter-Pinzahl 3.456

Adaptereinlegehilfe

Mit der optionalen Einlegehilfe können Adapter ganz einfach auf die Schnittstelle gefahren und über einen Hebemechanismus darauf abgesetzt werden. Der Adapter läuft hierbei auf zwei Schienen – wie eine Schublade – und wird über feste Anschläge sowie Standardbacken richtig positioniert.

Die Adaptereinlegehilfe kann auf bestehende Systeme nachgerüstet und mit bis zu 400 N belastet werden. Die Standardausführung ist für eine Adaptergröße von bis zu 600 x 600 mm ausgelegt – selbstverständlich bieten wir auch individuelle Lösungen auf Anfrage.

In-Circuit Test

Funktionstest

Lambda Edition: paralleles Testen als Lösung

Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.

Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.

Vorteile des parallelen Testens

  • Optimiert die Taktzeiten
  • Kleine, kostengünstige Testköpfe
  • Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
  • Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
  • Geringe Hardwarekosten
  • Geringer Platzbedarf

Boundary Scan ICT

Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.

  • Reduziert Adapterkosten durch Einsparung von Testpunkten
  • Nur ein Testadapter nötig für Boundary Scan und In-Circuit-Test
  • Erhöht Testabdeckung durch Integration aller Testkanäle
  • Geringe Testzeiten durch Integration mit Digitaltest-Hybridkarten
  • Einbindung aller Funktionen in CITE – Produktion bleibt in bekannter Benutzeroberfläche
  • Einfacher Datenexport mit C-LINK DTM zur Boundary Scan-Software

Unsere Hauptpartner in Sachen JTAG/Boundary Scan-Integrationen sind die namenhaften Anbieter GÖPEL electronic und JTAG Technologies.

CAN-/LIN-Module

Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.

Programmer Module

Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierunen trefffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft. 

IEEE-, R232-, USB-Module

Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.

PXI-Geräte

PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.

Optische Test-Module

Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.

Für folgende Adapter geeignet

  • Standardschnittstelle funktioniert mit Vakuum
  • Kabelschnittstelle auch möglich
  • Grundsätzlich ist jede Schnittstelle durch einen Schnittstellenadapter möglich (z.B. Pylon oder Virginia Panel)

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