Sparrow MTS 30

In-Circuit Testsystem

be flexible

19 Zoll Tester

Der Sparrow bietet ein Höchstmaß an Flexibilität und Testfähigkeit bei geringem Platzbedarf.

  • Bis zu 1.152 Pins
  • 19 Zoll - einfache Integration in ein Standardrack
  • sehr geringer Platzbedarf
  • Fast Acces Interface (FAI)- Schnellwechselschnittstelle für einfache Wartung
  • Echter Paralell Test: einfach umsetzbar mit Lambda edition

Der Sparrow MTS 30 ist ein 19 Zoll Testsystem, das in jedes Standard-Rack integriert werden kann. Der In-Circuit-Tester kommt jedoch auch als Tischlösung zum Einsatz. Mit dem kompakten und flexiblen Tester können Sie sowohl analoge als auch digitale In-Circuit-Tests und Funktionstests durchführen.

Trotz seiner kleinen Stellfläche verfügt der Sparrow mit neun Slots über bis zu 1.152 Testpins – diese stehen als analoge sowie hybride Pins zur Verfügung oder einem Mix aus beiden. Zusätzlich kann der Benchtop-Tester bis zu vier programmierbare Stromversorgungen aufnehmen. Mit den bewährten In-Circuit- und Funktionstestmodulen lässt sich ein Großteil der anfallenden Prüfaufgaben einfach und kostengünstig lösen.

Merkmale

Maximale Anzahl Netze 1.152
Maximale Boardgröße (BxHxT in mm) unbegrenzt
Schnittstelle Kabel
Systemgröße (BxHxT in mm) 483 x 178 x 5700
Besonderheiten 19" Gehäuse, flexibel
Mögliche Ausführungen analog, hybrid & Lambda Edition
Maximale Adapter-Pinzahl 1.152

Schnellwechselschnittstelle (FAI)

Unseren Sparrow können Sie mit einer Schnellwechselschnittstelle ausrüsten, der sogenannten Fast Access Interface (FAI). Dies ermöglicht Ihnen einen schnellen und einfachen Zugriff auf die Pinkarten, ohne lästiges Ab- und Anstecken der Flachbandkabel. So können Sie beispielsweise bei der Wartung wertvolle Zeit sparen: einfach den Slot-Streifen zur Seite klappen – wahlweise nach rechts oder links – und die betroffene Pinkarte herausnehmen.

Externer Schalter für Vakuum-Adapter

Mit dem externen Vakuumschalter können Sie einen Vakuum-Adapter direkt über den Sparrow steuern. Dabei handelt es sich um eine Box die an der Rückseite des In-Circuit-Testers angeschlossen wird. Über die Befehle VacOn oder VacOff kann der Vakuum-Schalter aktiviert oder deaktiviert werden.

Funktionstest-Turm

Suchen Sie ein flexibles System mit standardisierter Schnittstelle für Ihren Funktionstest? Damit sind Sie nicht alleine. Daher bieten wir unseren 19-Zoll Sparrow auch als Funktionstest-Turm mit standardisierter Pylon-Schnittstelle an. Dieser kann neben den Pins für In-Circuit-Test und Funktionstest auch Blöcke für beispielsweise Hochstrom/-spannung, Pneumatikanschlüsse oder optische Glasfaserschnittstelle umfassen. Der Tower ist individuell konfigurierbar und bietet die Möglichkeit zusätzliche Funktionstestgeräte auf IEEE- oder PXI-Basis aufzunehmen.

Ähnliche Integrationen konzipieren unsere Ingenieure gerne auf Anfrage und mit Unterstützung unserer auf Integrationen spezialisierten Partner.

Power Supply Rack

Sollten Ihnen die vier Stromversorgungen des Sparrows nicht ausreichen, bieten wir ein Power Supply Rack mit zwölf zusätzlichen Netzteilen. Es ist ebenso wie der Benchtop-Tester ein 19-Zoll Rack und ermöglicht Ihnen die Installation von zusätzlichen UPC-Modulen. So sind selbst Mehrfachnutzen, verschiedene Spannungen oder Paralleltesten von aufwändigeren Prüflingen mit unserem kompakten Testsystem kein Problem.

In-Circuit Test

Funktionstest

Lambda Edition: paralleles Testen als Lösung

Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.

Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.

Vorteile des parallelen Testens

  • Optimiert die Taktzeiten
  • Kleine, kostengünstige Testköpfe
  • Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
  • Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
  • Geringe Hardwarekosten
  • Geringer Platzbedarf

Boundary Scan ICT

Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.

  • Reduziert Adapterkosten durch Einsparung von Testpunkten
  • Nur ein Testadapter nötig für Boundary Scan und In-Circuit-Test
  • Erhöht Testabdeckung durch Integration aller Testkanäle
  • Geringe Testzeiten durch Integration mit Digitaltest-Hybridkarten
  • Einbindung aller Funktionen in CITE – Produktion bleibt in bekannter Benutzeroberfläche
  • Einfacher Datenexport mit C-LINK DTM zur Boundary Scan-Software

Unsere Hauptpartner in Sachen JTAG/Boundary Scan-Integrationen sind die namenhaften Anbieter GÖPEL electronic und JTAG Technologies.

CAN-/LIN-Module

Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.

Programmer Module

Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierunen trefffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft. 

IEEE-, R232-, USB-Module

Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.

PXI-Geräte

PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.

Optische Test-Module

Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.

Für folgende Adapter geeignet

  • Optimal für Inline-Handler (Board und Adapter), da das Gerät klein und kompakt ist
  • Grundsätzlich ist jede Schnittstelle durch einen Schnittstellenadapter möglich (z.B. Pylon oder Virginia Panel)

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