Lexikon

Unter Backdriving versteht man ein Verfahren beim digitalen In-Circuit Test zur funktionellen Isolierung digitaler Bauelemente im Schaltungsverbund einer Baugruppe. Das Verfahren wird vereinzelt auch als Node-Forcing bezeichnet. Hier werden Einzelbauelemente bzw. einzelnen Funktionseinheiten eines digitalen Bauelementes auf der Baugruppe einer Funktionsprüfung unterzogen. An den Eingängen des Prüflings liegen bei eingeschalteter Versorgungsspannung die Signale der logisch vorangehenden Bauelemente. Die erforderlichen Signalzustände an den Eingängen des zu testenden Bausteins werden erzwungen, indem die zufällig anliegenden Signale mit definierten Testsignalen überschrieben werden. Das heißt, die betreffenden Ausgänge der voranliegenden Bausteine werden durch Einprägen eines ausreichend hohen Stromes auf den benötigten Pegel gezogen. Hierbei ist es wichtig, die benötigten relativ hohen Ströme so zu überwachen und ggf. zu limitieren, dass eine Vorschädigung des übertriebenen Ausgangspins sicher ausgeschlossen werden kann. Die hierzu sicherste und zuverlässigste Methode ist eine Echtzeit Leistungsüberwachen der verwendeten digitalen Treiber im Testsystem, wie es bei den hybriden Pins der Digitaltest Systeme realisiert ist.