Omega MTS 888

In-Circuit Testsystem

High Performance In-Circuit Tester

Der Omega ist unser Hochleistungstester, welcher die höchste Anzahl an Testpins bietet. 

  • Bis zu 7.040 Pins
  • Schwenkbare Adapterschnittstelle
  • ergonomische Bedienung
  • Pneumatische Adapterabsenkung
  • Kurze Messwege

    Unser hochergonomischer In-Circuit-Tester Omega MTS 888 bietet Ihnen nicht nur einen gesunden Arbeitsplatz, sondern mit den 7.040 Testpins auch ein extrem leistungsfähiges Testsystem. So haben wir einen in der Höhe verstellbaren sowie kippbaren Hochleistungstester entwickelt, der es ermöglicht, bereits während der Testprogrammentwicklung mit dem Adapterbau zu beginnen.

    Da jeder Kanal einer eigenen Logikfamilie zugeordnet werden kann, ist die Adaptererstellung deutlich einfacher. Der In-Circuit-Tester kann auch als Funktionstester ausgebaut werden. Hierzu können Sie unsere verschiedenen Module nutzen, wie zum Beispiel Frequenz-Zeitmesseinheit, analoge Ein-Ausgabe oder Spannungsquellen.

    Merkmale

    Maximale Anzahl Netze 7.040
    Maximale Boardgröße (in mm) unbegrenzt
    Schnittstelle Vakuum oder Kabel
    Systemgröße (BxHxT in mm) 1500 x 860 bis 1060 (justierbar) x 750
    Besonderheiten hohe Pinzahl, Hochleistungstester, ergonomisch
    Mögliche Ausführungen analog, hybrid & Lambda edition
    Maximale Adapter-Pinzahl 7.040

    In-Circuit Test

    Funktionstest

    Lambda edition: paralleles Testen als Lösung

    Sie möchten mehrere Boards parallel testen und Zeit sparen? Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.

    Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.

    Vorteile des parallelen Testens

    • Optimiert die Taktzeiten
    • Kleine, kostengünstige Testköpfe
    • Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
    • Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
    • Geringe Hardwarekosten
    • Geringer Platzbedarf

    Lesen Sie mehr über unsere Lambda edition.

    Boundary Scan ICT

    Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.

    Mehr erfahren

    CAN-/LIN-Module

    Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.

    Programmer Module

    Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierungen treffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft. 

    IEEE-, RS232-, USB-Module

    Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.

    PXI-Geräte

    PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.

    Optische Test-Module

    Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.

    Für folgende Adapter geeignet

    • Verfügt über eine pneumatische Adapteraufsatzhilfe.
    • Grundsätzlich ist jede Schnittstelle durch einen Schnittstellenumsetzer möglich (z.B. Pylon oder Virginia Panel)

    Um lange Wartezeiten für den Bau der Adapter zu vermeiden, bietet Digitaltest einen In-Haus Adapter Services.

    Zum Digitaltest Adapterservice

    Sie wissen nicht, welches Testsystem zu Ihnen passt?

    Zum Testsystemfinder