Omega MTS 888
In-Circuit Testsystem

High Performance In-Circuit Tester
Der Omega ist unser Hochleistungstester, welcher die höchste Anzahl an Testpins bietet.
- Bis zu 7.040 Pins
- Schwenkbare Adapterschnittstelle
- ergonomische Bedienung
- Pneumatische Adapterabsenkung
- Kurze Messwege
Unser hochergonomischer In-Circuit-Tester Omega MTS 888 bietet Ihnen nicht nur einen gesunden Arbeitsplatz, sondern mit den 7.040 Testpins auch ein extrem leistungsfähiges Testsystem. So haben wir einen in der Höhe verstellbaren sowie kippbaren Hochleistungstester entwickelt, der es ermöglicht, bereits während der Testprogrammentwicklung mit dem Adapterbau zu beginnen.
Da jeder Kanal einer eigenen Logikfamilie zugeordnet werden kann, ist die Adaptererstellung deutlich einfacher. Der In-Circuit-Tester kann auch als Funktionstester ausgebaut werden. Hierzu können Sie unsere verschiedenen Module nutzen, wie zum Beispiel Frequenz-Zeitmesseinheit, analoge Ein-Ausgabe oder Spannungsquellen.
Merkmale
Maximale Anzahl Netze | 7.040 |
Maximale Boardgröße (in mm) | unbegrenzt |
Schnittstelle | Vakuum oder Kabel |
Systemgröße (BxHxT in mm) | 1500 x 860 bis 1060 (justierbar) x 750 |
Besonderheiten | hohe Pinzahl, Hochleistungstester, ergonomisch |
Mögliche Ausführungen | analog, hybrid & Lambda edition |
Maximale Adapter-Pinzahl | 7.040 |
In-Circuit Test
AMU05

Analoge Messeinheit – Herzstück des Systems
Die AMU05 (Analog Measurement Unit 05) ist der Kern all unserer Testsysteme. Sie sorgt dafür, dass alle Messungen schneller, genauer und noch stabiler werden.
FailSim

Verbessert die Qualität Ihrer Testprogramme
Wenn es um die Testabdeckung eines Programmes im analogen ICT geht, stellt sich nicht nur die Frage, ob für jedes Bauteil ein Test vorhanden ist und ausgeführt wurde, sondern auch, ob der Test einen Fehler tatsächlich erkennen würde.
MUX

Schaltmatrix
Die Analog-Matrix-Baugruppe dient als 6-Bus Durchschalteinheit für je 128 Pins zum analogen Messmodul (AMU05) für den In-Circuit-Test.
HYB04

128-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Die HYB04 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 128 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
HYB03

64-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Unsere HYB03 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 64 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
Funktionstest
UCB

Unser Universalträger für Funktionsmodule
Alle Funktionsmodule werden auf unser Universal Carrier Board (UCB) aufgesteckt – pro Träger stehen vier Steckplätze zur Verfügung.
MTC
MOC

Universelle Steuerausgänge
Das MOC ist unser universelles Steuermodul für verschiedenste Aufgaben, wie beispielsweise die Ansteuerung von Relais im Adapter.
MRM16 / MRM04

Relais für freie Verschaltungen
Bei unserem MRM handelt es sich um eine Relaiskarte zur universellen Schaltung verschiedenster Signale. Es dient als Grundmodule und ist als Variante mit 16 Schließer-Relais oder als Variante mit 4 x (7:1) Multiplex-Struktur erhältlich.
MRD

Programmierbarer Widerstand
Das MRD ermöglicht das Anschalten eines programmierbaren Widerstandes an den Prüfling.
MSM

Spannungen und Ströme stimulieren und messen
Das MSM misst und stimuliert präzise Spannungen und Ströme über die sechs Busleitungen oder Interface-Pins.
UPC02

Potentialfreie Spannungsquelle
Der Universal Power Controller (UPC02) stellt eine unabhängige potentialfreie Spannungsquelle für die Prüflingsversorgung zur Verfügung, bei der die Ausgangsspannung sowie die Strombegrenzung frei programmierbar sind.
Lambda edition: paralleles Testen als Lösung
Sie möchten mehrere Boards parallel testen und Zeit sparen? Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.
Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.
Vorteile des parallelen Testens
- Optimiert die Taktzeiten
- Kleine, kostengünstige Testköpfe
- Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
- Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
- Geringe Hardwarekosten
- Geringer Platzbedarf
Boundary Scan ICT
Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.
CAN-/LIN-Module
Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.
Programmer Module
Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierungen treffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft.
IEEE-, RS232-, USB-Module
Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.
PXI-Geräte
PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.
Optische Test-Module
Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.
Für folgende Adapter geeignet
- Verfügt über eine pneumatische Adapteraufsatzhilfe.
- Grundsätzlich ist jede Schnittstelle durch einen Schnittstellenumsetzer möglich (z.B. Pylon oder Virginia Panel)
Um lange Wartezeiten für den Bau der Adapter zu vermeiden, bietet Digitaltest einen In-Haus Adapter Services.
Sie wissen nicht, welches Testsystem zu Ihnen passt?
Zum Testsystemfinder






















