Sparrow MTS 30
In-Circuit Testsystem



19 Zoll In-Circuit Testsystem
Der Sparrow bietet ein Höchstmaß an Flexibilität und Testfähigkeit bei geringem Platzbedarf.
- Bis zu 1.152 Pins
- 19 Zoll – einfache Integration in ein Standardrack
- Sehr geringer Platzbedarf
- Fast Access Interface (FAI) – Schnellwechselschnittstelle für einfache Wartung
- Echter Paralleltest: einfach umsetzbar mit Lambda edition
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- Produktflyer Sparrow MTS 30
- Testsystem Übersicht
- Teststrategie-Flyer
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Der Sparrow MTS 30 ist ein 19 Zoll Testsystem, das in jedes Standard-Rack integriert werden kann. Der In-Circuit-Tester kommt jedoch auch als Tischlösung zum Einsatz. Mit dem kompakten und flexiblen Tester können Sie sowohl analoge als auch digitale In-Circuit-Tests und Funktionstests durchführen.
Trotz seiner kleinen Stellfläche verfügt der Sparrow mit neun Slots über bis zu 1.152 Testpins – diese stehen als analoge sowie hybride Pins zur Verfügung oder einem Mix aus beiden. Zusätzlich kann der Benchtop-Tester bis zu vier programmierbare Stromversorgungen aufnehmen. Mit den bewährten In-Circuit- und Funktionstestmodulen lässt sich ein Großteil der anfallenden Prüfaufgaben einfach und kostengünstig lösen.
Merkmale
Maximale Anzahl der Netze | 1.152 |
Maximale Boardgröße (in mm) | unbegrenzt |
Schnittstelle | Kabel |
Systemgröße (BxHxT in mm) | 483 x 178 x 570 |
Besonderheiten | 19" Gehäuse, flexibel |
Mögliche Ausführungen | analog, hybrid & Lambda edition |
Maximale Adapter-Pinzahl | 1.152 |
Schnellwechselschnittstelle (FAI)
Unseren Sparrow können Sie mit einer Schnellwechselschnittstelle ausrüsten, der sogenannten Fast Access Interface (FAI). Dies ermöglicht Ihnen einen schnellen und einfachen Zugriff auf die Pinkarten, ohne lästiges Ab- und Anstecken der Flachbandkabel. So können Sie beispielsweise bei der Wartung wertvolle Zeit sparen: einfach den Slot-Streifen zur Seite klappen – wahlweise nach rechts oder links – und die betroffene Pinkarte herausnehmen.
Externer Schalter für Vakuum-Adapter
Mit dem externen Vakuumschalter können Sie einen Vakuum-Adapter direkt über dem Sparrow steuern. Dabei handelt es sich um eine Box die an der Rückseite des In-Circuit-Testers angeschlossen wird. Über die Befehle VacOn oder VacOff kann der Vakuum-Schalter aktiviert oder deaktiviert werden.
Funktionstest-Turm
Suchen Sie ein flexibles System mit standardisierter Schnittstelle für Ihren Funktionstest? Damit sind Sie nicht alleine. Daher bieten wir unseren 19-Zoll Sparrow auch als Funktionstest-Turm mit standardisierter Pylon-Schnittstelle an. Dieser kann neben den Pins für In-Circuit-Test und Funktionstest auch Blöcke für beispielsweise Hochstrom/-spannung, Pneumatikanschlüsse oder optische Glasfaserschnittstellen umfassen. Der Tower ist individuell konfigurierbar und bietet die Möglichkeit zusätzliche Funktionstestgeräte auf IEEE- oder PXI-Basis aufzunehmen.
Ähnliche Integrationen konzipieren unsere Ingenieure gerne auf Anfrage und mit Unterstützung unserer auf Integrationen spezialisierten Partner.
Power Supply Rack
Sollten Ihnen die vier Stromversorgungen des Sparrows nicht ausreichen, bieten wir ein Power Supply Rack mit zwölf zusätzlichen Netzteilen. Es ist ebenso wie der Benchtop-Tester ein 19-Zoll Rack und ermöglicht Ihnen die Installation von zusätzlichen UPC-Modulen. So sind selbst Mehrfachnutzen, verschiedene Spannungen oder Paralleltesten von aufwändigeren Prüflingen mit unserem kompakten Testsystem kein Problem.
In-Circuit Test
AMU05

Analoge Messeinheit – Herzstück des Systems
Die AMU05 (Analog Measurement Unit 05) ist der Kern all unserer Testsysteme. Sie sorgt dafür, dass alle Messungen schneller, genauer und noch stabiler werden.
FailSim

Verbessert die Qualität Ihrer Testprogramme
Wenn es um die Testabdeckung eines Programmes im analogen ICT geht, stellt sich nicht nur die Frage, ob für jedes Bauteil ein Test vorhanden ist und ausgeführt wurde, sondern auch, ob der Test einen Fehler tatsächlich erkennen würde.
MUX

Schaltmatrix
Die Analog-Matrix-Baugruppe dient als 6-Bus Durchschalteinheit für je 128 Pins zum analogen Messmodul (AMU05) für den In-Circuit-Test.
HYB04

128-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Die HYB04 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 128 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
HYB03

64-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Unsere HYB03 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 64 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
Funktionstest
UCB

Unser Universalträger für Funktionsmodule
Alle Funktionsmodule werden auf unser Universal Carrier Board (UCB) aufgesteckt – pro Träger stehen vier Steckplätze zur Verfügung.
MTC
MOC

Universelle Steuerausgänge
Das MOC ist unser universelles Steuermodul für verschiedenste Aufgaben, wie beispielsweise die Ansteuerung von Relais im Adapter.
MRM16 / MRM04

Relais für freie Verschaltungen
Bei unserem MRM handelt es sich um eine Relaiskarte zur universellen Schaltung verschiedenster Signale. Es dient als Grundmodule und ist als Variante mit 16 Schließer-Relais oder als Variante mit 4 x (7:1) Multiplex-Struktur erhältlich.
MRD

Programmierbarer Widerstand
Das MRD ermöglicht das Anschalten eines programmierbaren Widerstandes an den Prüfling.
MSM

Spannungen und Ströme stimulieren und messen
Das MSM misst und stimuliert präzise Spannungen und Ströme über die sechs Busleitungen oder Interface-Pins.
UPC02

Potentialfreie Spannungsquelle
Der Universal Power Controller (UPC02) stellt eine unabhängige potentialfreie Spannungsquelle für die Prüflingsversorgung zur Verfügung, bei der die Ausgangsspannung sowie die Strombegrenzung frei programmierbar sind.
Lambda edition: paralleles Testen als Lösung
Sie möchten mehrere Boards parallel testen und Zeit sparen? Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.
Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.
Vorteile des parallelen Testens
- Optimiert die Taktzeiten
- Kleine, kostengünstige Testköpfe
- Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
- Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
- Geringe Hardwarekosten
- Geringer Platzbedarf
Boundary Scan ICT
Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.
CAN-/LIN-Module
Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.
Programmer Module
Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierungen treffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft.
IEEE-, RS232-, USB-Module
Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.
PXI-Geräte
PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.
Optische Test-Module
Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.
Für folgende Adapter geeignet
- Optimal für Inline-Handler (Board und Adapter), da das Gerät klein und kompakt ist
- Grundsätzlich ist jede Schnittstelle durch einen Schnittstellenadapter möglich (z.B. Pylon oder Virginia Panel)
Um lange Wartezeiten für den Bau der Adapter zu vermeiden, bietet Digitaltest einen In-Haus Adapter Services.

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