Eagle MTS 180
In-Circuit Testsystem
In-Circuit Testsystem mit pneumatischer Presse
Der Eagle ermöglicht preiswertes Testen dank günstigen Adapterlösungen.
- Bis zu 3.456 Pins bei 5.500 N
- Günstige Adapterlösungen
- Pneumatische Presse
- One-Touch Fixture: Schnittstelle für schnelles Wechseln von Adaptern
Der Eagle MTS 180 ist unsere kostengünstige Lösung für die Großserienfertigung. Der In-Circuit-Tester ist mit einer Presseinheit ausgestattet, sodass Sie auf teure Vakuumadapter verzichten können. Die pneumatische Presse ermöglicht Ihnen selbst hochkomplexe Adapter kostensparend zu entwickeln.
Unser Eagle kann bei 5.500 N mit bis zu 3.456 analogen und hybriden In-Circuit-Testpins ausgestattet werden und ist somit das ideale Testsystem für EMS-Dienstleister und die Großserienfertigung. Außerdem kann das Testsystem für eine höhere Fehlerabdeckung mit funktionalen Modulen ausgestattet sowie als Funktionstester ausgebaut werden.
Merkmale
Maximale Anzahl Netze | 3.456 |
Maximale Boardgröße (in mm) | 430 x 310 |
Schnittstelle | pneumatische Presse |
Systemgröße (BxHxT in mm) | 1000 x 1700 x 860 |
Besonderheiten | pneumatische Presse, günstige Adapterlösungen |
Mögliche Ausführungen | analog, hybrid & Lambda edition |
Maximale Adapter-Pinzahl | 3.456 (bei 5500 N) |
Schnellwechselschnittstelle (One Touch)
Mit unserem One Touch-System können Sie schnell und einfach mittels der ausgeklügelten Schnellwechselschnittstelle Ihre Adapter wechseln, ohne lästiges Umstecken von Kabeln.
Lichtvorhang
Anstelle einer Sicherheitstür lässt sich der Arbeitsplatz an der pneumatischen Presse auch mittels eines Lichtvorhanges schützen.
In-Circuit Test
AMU05
Analoge Messeinheit – Herzstück des Systems
Die AMU05 (Analog Measurement Unit 05) ist der Kern all unserer Testsysteme. Sie sorgt dafür, dass alle Messungen schneller, genauer und noch stabiler werden.
FailSim
Verbessert die Qualität Ihrer Testprogramme
Wenn es um die Testabdeckung eines Programmes im analogen ICT geht, stellt sich nicht nur die Frage, ob für jedes Bauteil ein Test vorhanden ist und ausgeführt wurde, sondern auch, ob der Test einen Fehler tatsächlich erkennen würde.
MUX
Schaltmatrix
Die Analog-Matrix-Baugruppe dient als 6-Bus Durchschalteinheit für je 128 Pins zum analogen Messmodul (AMU05) für den In-Circuit-Test.
HYB04
128-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Die HYB04 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 128 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
HYB03
64-Pin hybrides Treiber-/Sensor-Modul
Unsere HYB03 ermöglicht umfangreiche analoge sowie digitale Treiber- und Sensor-Funktionen. Sie besitzt 64 nicht gemultiplexte hybride Pins pro Baugruppe.
Funktionstest
UCB
Unser Universalträger für Funktionsmodule
Alle Funktionsmodule werden auf unser Universal Carrier Board (UCB) aufgesteckt – pro Träger stehen vier Steckplätze zur Verfügung.
MTC
MOC
Universelle Steuerausgänge
Das MOC ist unser universelles Steuermodul für verschiedenste Aufgaben, wie beispielsweise die Ansteuerung von Relais im Adapter.
MRM16 / MRM04
Relais für freie Verschaltungen
Bei unserem MRM handelt es sich um eine Relaiskarte zur universellen Schaltung verschiedenster Signale. Es dient als Grundmodule und ist als Variante mit 16 Schließer-Relais oder als Variante mit 4 x (7:1) Multiplex-Struktur erhältlich.
MRD
Programmierbarer Widerstand
Das MRD ermöglicht das Anschalten eines programmierbaren Widerstandes an den Prüfling.
MSM
Spannungen und Ströme stimulieren und messen
Das MSM misst und stimuliert präzise Spannungen und Ströme über die sechs Busleitungen oder Interface-Pins.
UPC02
Potentialfreie Spannungsquelle
Der Universal Power Controller (UPC02) stellt eine unabhängige potentialfreie Spannungsquelle für die Prüflingsversorgung zur Verfügung, bei der die Ausgangsspannung sowie die Strombegrenzung frei programmierbar sind.
Lambda edition: paralleles Testen als Lösung
Sie möchten mehrere Boards parallel testen und Zeit sparen? Wir haben die Lösung: paralleles Testen mit der Lambda edition. Mit dieser Technik können Sie gleichzeitig zwei oder mehr Baugruppen testen und so die Taktzeiten optimieren und die Testzeit verkürzen oder die Tests auf dem schnellsten Weg durchführen. Ein ICT oder Funktionstest wird von zwei oder mehr unabhängigen Testköpfen ausgeführt und dadurch die Prüfzeit um den entsprechenden Faktor reduziert. Dies gilt für einen Mehrfachnutzen ebenso wie für mehrere unabhängige Einzelprüflinge.
Die Lambda edition mindert so die Testzeit bei zwei Prüflingen beispielsweise um 50 Prozent, bei vier um 75 Prozent und so weiter.
Vorteile des parallelen Testens
- Optimiert die Taktzeiten
- Kleine, kostengünstige Testköpfe
- Leistungsfähige und flexible Softwareumgebung
- Baugruppen können ohne zusätzlichen Aufwand getestet werden
- Geringe Hardwarekosten
- Geringer Platzbedarf
Boundary Scan ICT
Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.
CAN-/LIN-Module
Die CAN-/LIN-Module sind Standardschnittstellen zur Kommunikation mit dem Prüfling.
Programmer Module
Mit den Programmer Modulen können Sie spezifische Auswahlen für On-Board Flash Programmierungen treffen. So integrieren wir beispielsweise Programmer von Ertec, SMH, ProMik oder Algocraft.
IEEE-, RS232-, USB-Module
Diese funktionellen Module haben standardisierte PC-Schnittstellen für die Kommunikation zu zusätzlichen Funktionstest-Modulen.
PXI-Geräte
PXI-Geräte dienen als Erweiterungsmodule für spezifische Tests.
Optische Test-Module
Die Module für optische Tests können zum Beispiel LEDs testen, hierbei werden über Lichtleiter die Farbe und Intensität von LEDs geprüft.
Für folgende Adapter geeignet
- Adapter kann doppelseitig kontaktieren
- Adapter kann starre Nadeln verwenden, die sich gut eignen für kleine Abstände und kleine Pads
- Funktioniert mit pneumatischer Presse
Um lange Wartezeiten für den Bau der Adapter zu vermeiden, bietet Digitaltest einen In-Haus Adapter Services.