Lexikon

In-Circuit-Test

In-Circuit-Tests (ICT) prüfen Bauelementparameter auf einer bestückten Baugruppe oder elektrische Verbindungen einer Leiterplatte. Dabei wird die bestückte Leiterplatte, mithilfe von Prüfnadeln, auf Fehler in der Leiterbahnführung, Lötfehler und Bauteilefehler geprüft. Die Prüfnadeln können sowohl in einem speziellen Adapter (Nadelbettadapter), als auch als bewegliche Nadeln in einem Flying Probe Systems angeordnet sein.