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Webinar: The Power of Flying Probe Test (in Englisch)
Wir möchten Sie zu unseren kostenlosen Webinaren am Dienstag, den 28. März oder 29. März einladen und erfahren, wie Sie mit unserem universellen…

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Jetz Anmelden!: Digitaltest User-Webinare im Oktober 2022
Wir laden alle Anwender zu unseren kostenlosen User-Webinaren im Oktober ein! In den User-Webinaren stellen wir unsere neusten Lösungen vor und…
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Innovation im Bereich automatisierte Testsysteme trifft auf fortschrittlichste ISP-Programmierlösungen
Digitaltest integriert FlashRunner von SMH Technologies in Adapter, In-Circuit- und Flying-Probe-Testsysteme

Aktuelles News Software
CITE 8.2: Grafische Anzeige aller Messwerte im neuen MDL-Format
QCAMPro (Quality Check of Analog Measurements Professional) ist ein umfangreiches Applikations-Werkzeug, mit dem die aus Baugruppentests…

Aktuelles News Software
Digitaltest erhöht Testmöglichkeiten und Testabdeckung
Ein Projekt, das wir nicht ablehnen konnten, endete letztendlich mit einer neuen Testmethode.

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Mit unserem Black CITE-Day Software Deal sparen Sie vor allem Zeit!
Denken Sie auch schon heute über zukunftsfähige Lösungen von morgen nach, um frühzeitig Ihre Wettbewerbsfähigkeit im hart umkämpften Elektronikmarkt…

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C-LINK mit neuem JTN 2.0 von JTAG
Bereits seit vielen Jahren kann das Boundary-Scan-Testverfahren von JTAG in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert…

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CITE 8 verfügt über neueste Intelligenz – Mehr Leistung in kürzerer Zeit
Mit der neuesten Digitaltest Testsystemsoftware CITE 8 lassen sich ohne menschliches Eingreifen Testprogramme für komplexe PCBs generieren und sogar…

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Optical-Repair-Lösung von Digitaltest lokalisiert Baugruppenfehler schneller als bisher
Mit der Complete Optical Repair Solution (CORS) von Digitaltest entfallen künftig manuelle Suche und Identifikation von Fehlern auf Baugruppen,…

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Innovationsdruck vs. In-Circuit-Test
Wird ein Produkt verbessert oder müssen abgekündigte Komponenten ersetzt werden, machen diese Veränderungen vor keinem Prozess in der…