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Online-Vortrag von Digitaltest: In-Circuit-Test versus Funktionstest
Am 09. Februar spricht Ebeid Safein, Applikations Manager von Digitaltest Inc., im Rahmen des von der SMTA organisierten Online-Events „Ohio Chapter Meeting: Test/-Design for Testability“ über die verschiedenen Ansätze, Herausforderungen und Kombinationsmöglichkeiten von In-Circuit- und Funktionstests.
Wie kann die optimale Testmethode gefunden werden? Eine Antwort auf diese Frage gibt Ebeid Safein in seinem Vortrag „In-Circuit oder Funktionstest: Warum muss überhaupt getestet werden?“.
Dabei stellt er die Methoden von In-Circuit- und Funktionstest vor, geht dabei auf die Vor- und Nachteile ein und zeigt anhand von verschiedenen Beispielen auf, wann welche Teststrategie die Richtige ist und wie die beiden Testmethoden miteinander kombiniert werden können.
Der auf englische gehaltene Vortrag ist eine Zusammenarbeit mit BarTron Inc., die Digitaltest auf dem nordamerikanischen Kontinent in den Staaten Michigan, Ohio und Pennsylvania vertreten.
Das Online-Event findet am 09. Februar um 22:30 Uhr mitteleuropäische Zeit statt, weitere Informationen zur Veranstaltung und zur Anmeldung finden Sie hier.
