Lexikon
Digitaler In-Circuit-Test
Der digitale In-Circuit-Test beschreibt die Anwendung des In-Circuit-Tests im digitalten Bereich. Digitale Signale werden bei angelegter Betriebsspannung an den Eingängen der einzelnen Bausteine einer Baugruppe eingeprägt (Backdriving) und die Ausgänge überprüft. Ebenso wie bei den Guarding-Techniken beim analogen In-Circuit-Test wird beim digitalen ICT ein "digitales Guarding" angewandt, d.h. es werden z.B. mit zusätzlichen Adapterpins Bausteine, die das Einspeisen von Signalen an Bus-Leitungen u.U. stören, inaktiv geschaltet oder es werden z. B. Rückkopplungsschleifen in einer Schaltung unterbrochen. Bestimmte Design for Testability (DFT)-Maßnahmen werden bei der Anwendung des ICT vorausgesetzt.
