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FailSim

FailSim ist ein Digitaltest-Verfahren für eine nichtinvasive Fehlersimulation. Bei der Bestimmung der Testabdeckung eines Programms für den analogen In-Circuit-Test stellt sich nicht nur die Frage, ob für jedes Bauteil ein Test vorhanden ist und ausgeführt wurde, sondern auch ob die realisierten Tests auch wirklich Fehler erkennen (Vermeiden von "Pseudo-Tests"). Eine solche Überprüfung kann in einfacher Weise mit dem FailSim-Modul für die AMU05 erfolgen.

Während eines Überprüfungslaufes des Testprogramms mit einem Referenz-Prüfling werden zur Simulation von Bauteilfehlern verschiedene Widerstände bzw. Kondensatoren parallel und seriell zum jeweiligen überprüften Bauteil angeschaltet. Die zugeschalteten Bauteile werden so ausgewählt, dass ein Messwert außerhalb der Limits des Tests erwartet wird. Diese Fehlersimulation wird für standardmäßige Widerstands-, Kondensator- und auch Diodentests ausgeführt. In einem abschließenden Bericht wird protokolliert, welche Fehler simuliert wurden und ob der jeweils erwartete Fail-Status erkannt wurde. Hiermit erhält der Anwender eine präzise Aussage über die tatsächliche Fehlererkennung seines Prüfprogramms und kann dieses dann ggf. entsprechend verbessern.

FailSim ist eine Entwicklung von Digitaltest und daher exklusiv nur bei uns erhältlich.

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