News

News Software Presse

Für mehr Automatisierung: CITE 7.2

„Measure Samples“ ermöglichen, jeden einzelnen Abtastwert einer Messung einzusehen und hierdurch die Messparameter zu optimieren.

Die Softwareplattform CITE für alle Digitaltestsysteme geht in die nächste Runde. Mit dem Update 7.2 bieten wir einige spannende Funktionen, die Ihnen beim Erstellen von Testprogrammen, dem Debuggen und beim Testen selbst helfen. Zudem haben wir ein Tool entwickelt, dass Ihre bestehenden Testprogramme mit nur einem Klick auf die neue CITE-Version aktualisiert. Bereits seit CITE 7.1 ist außerdem das Modul FailSim voll integriert und die Messanzeige in einem eigenen Debug-Fenster zu sehen. FailSim simuliert ein defektes Bauteil und ermöglicht so dem Anwender schnell und einfach die tatsächliche Fehlererkennung eines Testprogramms zu verbessern und falsche Einflussfaktoren zu vermeiden.

Automatisierter Inputdiodentest
CITE 7.2 bietet eine kleine Revolution in Sachen Inputdiodentest (Schutzdiodentest). Bisher bestand die Möglichkeit, die Lötpunkte von ICs (Integrated Circuits) mithilfe eines aufwändigen Funktionstests, einem OpensCheck oder durch händische Einstellung der Parameter zu prüfen. Nun übernimmt dies der automatische Programm Generator (APG) in CITE in Kombination mit einem neuen Learntool für den Anwender. Der APG generiert hierbei die Testbefehle für die Pins und das Learntool probiert verschiedene Parameter, bis eine stabile Messung möglich ist und in das Testprogramm aufgenommen werden kann. Da der Prozess automatisiert abläuft, spart der Anwender nicht nur Hardware sondern auch wertvolle Zeit.

Batchmodus – Updates leicht gemacht
Sind Sie es leid, jedes Testprogramm einzeln auf den aktuellen Softwarestand zu bringen? Mit dem neuen Batch Translator kann eine unbegrenzte Anzahl an Testprogrammen ausgewählt und gleichzeitig auf die neue Softwareversion aktualisiert werden. Eine ähnliche Funktion bietet der neue Batch Property Modifier. Hier können Sie im Batchmodus die Einstellungen bei allen gewählten Testprogrammen gleichzeitig ändern, beispielsweise die Datenpfade für Logfiles oder Einstellungen zum Fehlerhandling.

Neue Befehle
Die neue CITE-Version hat zudem zwei neue Befehle in Petto, um eigene Einträge in den Log-Dateien zu machen. Sie stehen für Data- und MDL-Logs zur Verfügung.

Testzeit verkürzen und Messqualität erhöhen
Eine Messung im Detail zu kennen und die Messung dementsprechend optimieren zu können, muss kein Traum mehr bleiben. Jetzt gibt CITE dem Anwender die Möglichkeit mittels „Measure Samples“, eine Messung direkt im Speicher der Messeinheit (AMU05) einzusehen – mit jedem einzelnen Abtastwert. Er sieht also genau, was tatsächlich gemessen wird, nicht nur den gemittelten Messwert. Damit ist es möglich, die Messparameter beim Debuggen anzupassen und hierdurch die Testzeit zu verkürzen, die Messqualität zu verbessern und Pseudofehler zu vermeiden.

Messwiederholung mit automatischer Vakuumsteuerung
Kommt es zu einer Messung außerhalb der Toleranz beim Vakuumtester (Sigma MTS 300), liegt die Vermutung eines Kontaktfehlers nahe. Üblicherweise löst sich dieses Problem, wenn der Anwender das Vakuum aus- und wieder anschaltet. Dieser Prozess kann künftig automatisch durch das Testprogramm gesteuert werden, wenn ein Kontaktproblem vermutet wird; ein manuelles Eingreifen ist nicht mehr notwendig.

Pressemeldung:
PDF
Word

Neuheiten rund um World of Testing – bleiben Sie informiert

Digitaltest-Newsletter abonnieren
Bleiben Sie informiert