Boundary Scan für Flying Probe Tests

 

Mit unserer Boundary Scan Erweiterung für In-Circuit-Tests (ICT) können Sie das Beste aus beiden Prüfmethoden herausholen und eine optimale Teststrategie mit maximaler Testabdeckung und reduzierten Gesamtkosten erreichen.

  • Reduziert Adapterkosten durch Einsparung von Testpunkten
  • Nur ein Testadapter nötig für Boundary Scan und In-Circuit-Test
  • Erhöht Testabdeckung durch Integration aller Testkanäle
  • Geringe Testzeiten durch Integration mit Digitaltest-Hybridkarten
  • Einbindung aller Funktionen in CITE – Produktion bleibt in bekannter Benutzeroberfläche
  • Einfacher Datenexport mit C-LINK DTM zur Boundary Scan-Software

Unsere Hauptpartner in Sachen JTAG/Boundary Scan-Integrationen sind die namenhaften Anbieter GÖPEL electronic und JTAG Technologies.

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