Boundary Scan für In-Circuit-Test
- Reduziert Adapterkosten durch Einsparung von Testpunkten
- Nur ein Testadapter nötig für Boundary Scan und In-Circuit-Test
- Erhöht Testabdeckung durch Integration aller Testkanäle
- Geringe Testzeiten durch Integration mit Digitaltest-Hybridkarten
- Einbindung aller Funktionen in CITE – Produktion bleibt in bekannter Benutzeroberfläche
- Einfacher Datenexport mit C-LINK DTM zur Boundary Scan-Software
Unsere Hauptpartner in Sachen JTAG/Boundary Scan-Integrationen sind die namenhaften Anbieter GÖPEL electronic und JTAG Technologies.
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