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Bestückte Leiterplatten erfolgreich im Nutzen testen
In Elektronikfertigungen dieser Tage ist die Nutzenbestückung fast eine Selbstverständlichkeit. Baugruppen als Mehrfachnutzen herzustellen spart Zeit und Geld. Doch wie sieht das Ganze beim In-Circuit-Test oder Funktionstest der fertigen Platinen aus? Beim Thema Nutzentest sind viele Elektronikhersteller noch zurückhaltend. Dabei liegen die Vorzüge auf der Hand: es können selbst kleinste Baugruppen getestet werden, mittels Doppelnutzen ist die Baugruppe verdrehsicher und der Nutzentest ermöglicht höhere Stückzahlen in kürzerer Zeit bei optimiertem Ressourceneinsatz. Warum also trennt die Mehrheit den Nutzen vor dem In-Circuit-Test in Einzelbaugruppen?
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