Lexikon

(Kostengünstiges) Konzept für den Test von dicht bestückten Leiterplatten mit eingeschränkter Kontakttierbarkeit (nicht alle Netze haben Testpunkte), die mindestens einen Boundary Scan-fähigen Baustein enthalten. Der finale Testlauf besteht in der Regel aus einer optimal aufeinander abgestimmten Kombination aus In-Circuit-, Funktions- und Boundary Scan-Test. 

Die gleiche Funktion, die Daten an die Boundary Scan-Zelle aussendet- und empfängt, stimuliert auch die Funktionalität des Non-Boundary Scan-Bauteils. Dabei wird ein „Virtueller Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platziert. Der entsprechende Eingang am Non-Boundary Scan-Bauteil kann so angesteuert- und dessen Ausgangssignale erfasst werden.

Zum Einsatz kommen die internen Digitaltest-Testsystemfähigkeiten, zur Kontrolle der Boundary Scan-fähigen Komponente wird zudem das gleiche standardisierte Diagnoseprotokoll wie bei einem In-Circuit Test (ICT) genutzt, was gleichzeitig die Testabdeckung erhöht.