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Digitaltest erhöht Testmöglichkeiten und Testabdeckung
Ein Projekt, das wir nicht ablehnen konnten, endete letztendlich mit einer neuen Testmethode.
Die Herausforderung:
Uns lag eine dicht bestückte Leiterplatte (PCB) vor, auf der einige Netze nicht mit Tester-Pins erreichbar waren, da mögliche Kontakt-Pads nicht einmal mit bloßem Auge sichtbar waren. Außerdem enthielt das zu testende PCB einen Boundary Scan fähigen Mikrochip, der getestet werden musste. Um nun die bestmögliche Testabdeckung zu erreichen, mussten wir bei dieser Anwendung eine optimale Mischung aus In-Circuit-, Funktions- und Boundary Scan-Tests anbieten. Wir wussten, dass wir diesen Auftrag verlieren könnten, wenn wir Boundary Scan-Geräte von einem externen Lieferanten einbeziehen müssten, da für deren Kauf (Hard-und Software) relativ hohe Kosten anfallen. Das Projekt wäre unter diesen Umständen nie zustande gekommen.
Die Lösung:
Um dies zu vermeiden, kam einer unserer Ingenieure auf die Idee, unsere eigenen Testsystemfähigkeiten zu verwenden. Um dabei unsere Testabdeckung zu erhöhen, nutzten wir zusätzlich zur Kontrolle der Boundary Scan-fähigen Komponente das gleiche standardisierte Diagnoseprotokoll wie bei unserem In-Circuit Test (ICT).
Mit der gleichen Funktion, mit der wir Daten an die Boundary Scan-Zelle aussenden und empfangen, können wir die Funktionalität des Non-Boundary Scan-Bauteils stimulieren, indem wir den entsprechenden Eingang am Non-Boundary Scan-Bauteil ansteuern und dessen Ausgangssignale erfassen. Es ist, als ob wir unsere eigenen Testtreiber und -sensoren in die integrierten Schaltungen (ICs) selbst eingebaut hätten.
Mit viel Brainstorming und Forschung haben es die Digitaltest-Ingenieure geschafft, die Testabdeckung drastisch zu erhöhen, ohne dabei zusätzliche Kosten für externe Geräte zu verursachen.
Das Fazit zu "Virtual Pins":
Wir machten uns die aktuellen Möglichkeiten unseres eigenen Testsystems zu Nutze und steuerten die Boundary Scan-Komponenten über einfache Befehle direkt von unserer Benutzeroberfläche aus.
Wir konnten die Tests durchführen, indem wir einen „Virtuellen Pin“ zwischen einer Boundary Scan- und einer sich in unmittelbarer Umgebung befindlichen Nicht-Boundary Scan-Komponente platzierten. Mit diesem Konzept lassen sich auch kleinste Leiterplatten mit eingeschränktem Testzugang ganz einfach testen – auch, wenn sie dicht mit winzigen Bauteilen bestückt sind.
In eigener Sache:
Wir glauben, dass die bestmögliche Testabdeckung erreicht werden kann, indem verschiedene Testmethoden miteinander kombiniert werden. Mit über 40 Jahren Erfahrung im Testen von Leiterplatten und der Erstellung von Testsystemen sind wir stolz darauf, Elektronikhersteller mit unserem ganzen Know-how für ihre Anwendungen zu beraten. Es war und ist unser Anspruch, Lösungen für scheinbar unlösbare Probleme zu finden und, falls notwendig, alternative Vorschläge zu erarbeiten. Wo ein Wille ist, ist auch ein Weg!
